OVM相关论文
本文为完成频偏捕获模块的验证,采用OVM[1](Open Verification Methodology)验证方法学搭建一个具有受约束的随机激励生成、覆盖率......
随着FPGA设计规模和设计复杂度的不断提高,传统的仿真验证方法正暴露出越来越多的缺陷,难以满足高质量、高效率的验证需求。开放式......
为了提高SoC设计的验证环节中,验证环境重用时的效率,提出了一种基于抽象层次化的随机激励产生机制。通过将激励序列库在抽象层次......
文章根据集成电路验证的发展趋势,分析了定向测试对于日益复杂的集成电路验证的局限性,以及随机化激励测试的优点。并且基于OVM架......
针对一款网络协议处理芯片，为了保证其设计的正确性，提升验证效率，基于OVM架构，通过SystemVerilog语言搭建了具有受约束的随机激励生成......
随着集成电路的高速发展,芯片设计的规模越来越大,功能越来越复杂,导致在电路设计阶段出现缺陷的可能性越来越高,这就对验证提出了......
随着集成电路一直在向高性能、高集成度、低功耗的SoC方向发展,功能验证在设计开发过程中变得越来越复杂和越来越重要。传统的验证......
本论文的研究重点是数字集成电路设计中的验证技术。随着集成电路技术的高速发展,芯片设计的规模越来越大,功能越来越复杂,导致在......
传统验证方法效率低下，可重复利用率低，验证工作在整个设计流程当中占了大约70%的工作量，逐渐成为芯片产业的制约条件。为了提高芯片......
随着SoC(System On a Chip)运算能力和控制复杂程度的飞速发展，功能验证已经成为整个设计过程中的主要瓶颈。据统计，验证过程占据了......
随着集成电路设计的复杂度日益提高,基于IP核的电路设计技术使得芯片规模越来越大,集成电路功能验证已经跟不上设计能力的发展,并......
随着集成电路工艺以及设计水平的提升,单芯片上集成的功能越来越多。功能集成度的增加导致验证的工作量呈现指数级的增长,要在短时......
本课题的研究对象是EPA(Ethernet for Plant Automation)芯片的功能验证,EPA芯片是一款自主研发的基于EPA国际标准的芯片,随着EPA......
随着芯片设计规模日益庞大,芯片功能日益复杂,而要确保这些大规模、高集成度的芯片设计的正确性和稳定性,芯片验证成为主要的障碍......
